SICT MIEUX réunit 12 conférenciers pour argumenter et débattre autour de l’influence des paramètres implantaires sur les challenges thérapeutiques et les résultats à court / moyen / long terme. Chaque conférencier explicite (en 20 minutes) ses choix en termes de systèmes implantaires à l’aune d’un protocole, d’une technique ou d’une thématique qui lui est chère.
Sous la présidence scientifique de Frederick Gaultier (responsable du D.U d’implantologie de Paris V).
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